先進MRAM晶片技術與驗證平台 運算未來的新力量

AI運算和車用電子崛起後,快閃記憶體出現運算瓶頸,市場亟需高速、穩定、低能耗的記憶體。工研院自2002年研發磁性記憶體(MRAM),經20年努力終於突破技術難題,並建立先進MRAM晶片技術與驗證平台,展現精湛技術,榮獲工研院傑出研究獎金牌獎。

歷經20年努力,工研院終於突破技術難題,建立先進MRAM晶片技術與驗證平台,展現精湛技術,榮獲工研院傑出研究獎金牌獎。(圖/工研院)

電腦記憶體如同人類大腦,負責儲存和管理各種資訊和指令,使電腦能迅速處理和運算。隨著AI人工智慧、5G時代來臨,以及自駕車、精準醫療診斷、衛星影像辨識等應用技術突飛猛進,傳統記憶體技術如動態隨機存取記憶體(Dynamic Random-Access Memory;DRAM)和快閃記憶體(NAND Flash)等已難滿足所需的穩定且高速的運算需求,國際半導體公司紛紛著手研發「磁性記憶體」(Magnetoresistive Random Access Memory;MRAM),有自旋轉移力矩型(STT)、自旋軌道力矩型(SOT)及電壓控制型(VCMA-MRAM或VG-MRAM)等不同功能的記憶體,MRAM家族可說是下一世代的理想記憶體。而SOT-MRAM更具高穩定、高運算與低功耗的傑出特性,是現階段科技發展倚重的新世代記憶體。

高速運算 嚴苛環境下無損性能

「磁性記憶體並非近年才有的新技術,工研院自2002年就已著手研究,經歷20多年的深耕、精進設計結構,近期終於有重大突破,成功解決MRAM之前難以跨越的技術難題。」工研院電子與光電系統研究所研發組長魏拯華說明。研發團隊自2015年起投入SOT-MRAM研發,從磁性多層膜設計到元件結構設計、再到最關鍵的圖形化蝕刻製程等,每個步驟都須克服諸多挑戰,終於在2018年開發出臺灣首顆SOT-MRAM元件,2021年與國內晶圓代工領導廠商合作成功開發前瞻性的8K陣列SOT-MRAM晶片,2022年再攜手陽明交大研發出工作溫度橫跨近400度的新式MRAM,展現更加純熟的前瞻技術。

工研院電子與光電系統研究所組長許世玄分析,由於AI運算和車用電子的崛起需要高速穩定且低能耗的記憶體,快閃記憶體已追不上處理器速度,成為運算瓶頸,如同人類大腦一旦失憶,日常生活便沒辦法處理,更遑論精密的運算。而科技產品不斷推陳出新,對記憶體的需求日新月異,其推波助瀾的主因是車用電子興起。「車用晶片不只要能精準運算,在嚴苛環境下還必須能正常工作,記憶體就成為最關鍵角色。」

Flash做不到的 讓SOT-MRAM來

SOT-MRAM屬非揮發性,換言之,斷電時仍可存取資料。現行的Flash快閃記憶體斷電後雖可儲存,但40奈米製程以下功能受限,而DRAM製程則在10幾奈米的階段。SOT-MRAM能滿足22奈米以下,甚至未來可達5奈米的製程,能解決目前技術瓶頸、符合先進製程需求。非揮發特性不僅能使記憶體即時存取資料,閒置待機時不會消耗能量,且更節能。此外,隨著記憶體模組功能逐漸強大,耗能相對提高,直接影響產品續航力,SOT-MRAM導入先進製程後,其低功耗的特性能延長使用年限,更能使裝置減少電池容量、縮小尺寸,讓新科技拓展出更多可行性。

SOT-MRAM具有0.4奈秒高速寫入、7兆次讀寫的高耐受度,且存取時電壓電流小、效率高,可結合電路設計完成記憶體內運算技術,進一步提升運算效能,真正滿足寫入次數無上限並縮短延遲,在AI人工智慧、車用電子、高效能運算晶片等領域具有極佳的前景。

高難度製程 複製每個完美

要讓SOT-MRAM完美表現,背後的努力可不少,技術門檻相當高,需同時使用多達30幾層奈米薄膜堆疊技術,而記憶體尺寸更只有20奈米左右,和其他記憶體通常只需5到6層薄膜堆疊、尺寸50奈米相比,SOT-MRAM製造難度大幅提高,光是鍍膜與蝕刻技術就堪稱精湛工藝的展現。魏拯華形容,記憶體猶如千層派、每個鍍膜薄層都有不同功能,彼此不能相互干擾;蝕刻技術好比切蛋糕,不僅下刀需精準,還不能讓別層切下的物質汙染到下一層,因此如何在所需位置精準下刀、還要把不相關物質清除乾淨,是SOT-MRAM製造關鍵。

實驗室中生產出單一顆完美元件,可能是曇花一現,要讓產線顆顆完美談何容易。工研院「先進MRAM晶片技術與驗證平台」,彙整多年經驗,供先進製程產業在大規模量產前驗證、調校,生產出需求不同,卻能完美表現的SOT-MRAM元件。

2022年6月起,研究團隊更登上全球半導體領域頂尖殿堂「超大型積體技術及電路國際會議(VLSI)」發表相關論文,成為國際矚目焦點,更吸引美國國防高等研究計畫署(DARPA)、加州大學洛杉磯分校(UCLA)合作,未來將把研發主力聚焦於次世代磁性記憶體。隨著人類科技文明日新月異,工研院走在產業之前,率先投入相關製程研發,幫助臺灣半導體產業牢牢站穩領先地位,持續累積國際競爭力。

(本文由工業技術與資訊授權轉載)

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